Détermination de structures cristallographiques par diffraction à haute résolution sur poudres

Projet: Recherche

Détails du projet

Description

Les mesures de diffraction par échantillons de poudre deviennent une
méthode de choix pour la détermination de structures cristallographiques de
composés organiques, inorganiques et organométalliques. Le recours au
rayonnement synchrotron pour ces mesures peut maintenant être remplacé
par l'utilisation de diffractomètres de laboratoire capables de collecter des
données à très haute résolution. Les technologies récentes (détecteurs
ultra-sensibles) et le développement d'algoritmes d'analyse des données
permettent la collecte de données de diffraction fiables. Celles-ci donnent
désormais accès à des structures à résolution atomique à partir de poudres
micro-cristallines.
Un diffractomètre de poudre capable de collecter des données de diffraction
à haute résolution donnera accès aux structures de co-cristaux de dérivés
de la famille des racétams et à une
série de solides thermo/photochromes.
L'équipement sera mis à disposition, via une plateforme technologique, au
plus grand nombre d'utilisateurs possible.
AcronymePow(d)er XRD
statutFini
Les dates de début/date réelle1/01/1731/12/18

Attachement à un institut de recherche reconnus à l'UNAMUR

  • NISM
  • NARILIS

Empreinte digitale

Explorez les thèmes de recherche abordés par ce projet. Ces libellés sont générés sur la base des prix/subventions sous-jacents. Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.