langue originale | Anglais |
---|---|
Pages (de - à) | 1118-1121 |
Nombre de pages | 4 |
journal | Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics processing and phenomena |
Volume | 3 |
Etat de la publication | Publié - 1985 |
Vibrational study of the SiO2/Si interface by high resolution electron energy loss spectroscopy
Paul Thiry, Michael Liehr, Jean-Jacques Pireaux, Robert Sporken, Roland Caudano, Jean-Pol Vigneron, Amand Lucas
Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article