Understanding Physico-Chemical Aspects in the Depth Profiling of Polymer: Fullerene Layers

Supriya Surana, Thierry Conard, Claudia Fleischmann, Jeffrey G. Tait, João P. Bastos, Eszter Voroshazi, Rasmus Havelund, Mathieu Turbiez, Pierre Louette, Alexandre Felten, Claude Poleunis, Arnaud Delcorte, Wilfried Vandervorst

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs

2 résultats
- Titre(par ordre décroissant)

ELISE (XPS et ToF-SIMS) (2005-2016)
Pierre Louette (!!Manager)
Equipement/installations: Equipement
Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)
Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager), Tijani Tabarrant (!!Operator), Frederic COME (!!Operator) & Paul-Louis Debarsy (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux
Equipement/installations: Plateforme technolgique