Résumé
XPS measurements of Nylon 6 (N6) recorded with a SSX-100 spectrometer in standardized experimental conditions are presented: survey scan, high resolution core level spectra as well as the energy loss regions of the main elements are analyzed.
langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 12-17 |
Nombre de pages | 6 |
journal | Surface science spectra |
Volume | 12 |
Etat de la publication | Non publié - 2005 |
Empreinte digitale Examiner les sujets de recherche de « Nylon 6 (N6) XPS reference core level and energy loss spectra. ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.
Équipement
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Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM)
Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager) & Jorge Humberto Mejia Mendoza (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiauxEquipement/installations: Plateforme technolgique