Investigation of methods to enhance the secondary ion yields in TOF-SIMS of organic samples

A. Heile, D. Lipinsky, N. Wehbe, A. Delcorte, P. Bertrand, A. Felten, L. Houssiau, J.-J. Pireaux, R. De Mondt, P. Van Royen, L. Van Vaeck, H.F. Arlinghaus

Namur Research Institute for Life Sciences

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs

1 résultats
- Titre(par ordre décroissant)

Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)
Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager), Tijani Tabarrant (!!Operator), Frederic COME (!!Operator) & Paul-Louis Debarsy (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux
Equipement/installations: Plateforme technolgique

Investigation of methods to enhance the secondary ion yields in TOF-SIMS of organic samples

Équipement

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Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)