Improving the Carrier Lifetime of Tin Sulfide via Prediction and Mitigation of Harmful Point Defects

Alex Polizzotti, Alireza Faghaninia, Jeremy R. Poindexter, Lea Nienhaus, Vera Steinmann, Robert L.Z. Hoye, Alexandre Felten, Amjad Deyine, Niall M. Mangan, Juan Pablo Correa-Baena, Seong Sik Shin, Shaffiq Jaffer, Moungi G. Bawendi, Cynthia Lo, Tonio Buonassisi

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs

Empreinte digitale

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