Damage evaluation in graphene underlying atomic layer deposition dielectrics

Résultats de recherche

• ELISE (XPS et ToF-SIMS) (2005-2016)

  Louette, P. (!!Manager)

  Equipement/installations: Equipement

• Microscopie électronique

  Colomer, J.-F. (!!Manager) & Charlier, C. (!!Operator)

  Equipement/installations: Plateforme technolgique

• Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)

  Louette, P. (!!Manager), Colaux, J. (!!Manager), Felten, A. (!!Manager), Tabarrant, T. (!!Operator), COME, F. (!!Operator) & Debarsy, P.-L. (!!Manager)

  Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux

  Equipement/installations: Plateforme technolgique