Damage evaluation in graphene underlying atomic layer deposition dielectrics

Xiaohui Tang, Nicolas Reckinger, Olivier Poncelet, Pierre Louette, Ferran Ureña, Hosni Idrissi, Stuart Turner, Damien Cabosart, Jean François Colomer, Jean Pierre Raskin, Benoit Hackens, Laurent A. Francis

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs

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- Titre(par ordre décroissant)

ELISE (XPS et ToF-SIMS) (2005-2016)
Pierre Louette (!!Manager)
Equipement/installations: Equipement
Microscopie électronique
Jean-Francois Colomer (!!Manager) & Corry Charlier (!!Operator)
Plateforme technologique Morphologie, imagerie
Equipement/installations: Equipement
Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)
Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager), Tijani Tabarrant (!!Operator), Frederic COME (!!Operator) & Paul-Louis Debarsy (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux
Equipement/installations: Plateforme technolgique