Cesium/xenon co-sputtering at different energies during ToF-SIMS depth profiling

J. Brison, R.G. Vitchev, L. Houssiau

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticleRevue par des pairs

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Cesium/xenon co-sputtering at different energies during ToF-SIMS depth profiling ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Ingénierie et Science des Matériaux

Physique & Astronomie