| la date de réponse | 2004 |
|---|---|
| langue originale | Anglais |
| Superviseur | Guy Terwagne (Jury), Charles DAUWE (Promoteur), Paul MATTHYS (Jury), Danny SEGERS (Jury), Eddy DE GRAEVE (Jury), Luc VAN HORENBEKE (Jury) & Roland VANMEIRHAEGHE (Jury) |
Defect characterisation of sputtered, nitrided and ion implanted systems using the new Ghent slow positron facility
Student thesis: Doc types › Docteur en Sciences