Defect characterisation of sputtered, nitrided and ion implanted systems using the new Ghent slow positron facility

  • Jérémy DEBAERDEMAEKER

Student thesis: Doc typesDocteur en Sciences

Résumé

la date de réponse2004
langue originaleAnglais
SuperviseurGuy Terwagne (Jury), Charles DAUWE (Promoteur), Paul MATTHYS (Jury), Danny SEGERS (Jury), Eddy DE GRAEVE (Jury), Luc VAN HORENBEKE (Jury) & Roland VANMEIRHAEGHE (Jury)

Contient cette citation

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