SIMS and XPS characterization of CdS/CdTe heterostructures grown by MBE

Paul Boieriu, Robert Sporken, A Adriaens, Yan Xin, Nigel Browning, Siva Sivananthan

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article

    Empreinte digitale

    Examiner les sujets de recherche de « SIMS and XPS characterization of CdS/CdTe heterostructures grown by MBE ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

    Physics