Potentialities of the Gelius intensity model in quality control of valence XPS measurements

Joseph Riga, Jean-Pol BOUTIQUE, Jacques Verbist, Joseph Delhalle, Joseph Fripiat

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

    Empreinte digitale

    Examiner les sujets de recherche de « Potentialities of the Gelius intensity model in quality control of valence XPS measurements ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

    Computer Science

    Chemistry