Potentialities of the Gelius intensity model in quality control of valence XPS measurements

Joseph Riga, Jean-Pol BOUTIQUE, Jacques Verbist, Joseph Delhalle, Joseph Fripiat

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

    langue originaleAnglais
    Pages (de - à)263-268
    Nombre de pages6
    journalJ. Electron Spectrosc.
    Volume33
    Etat de la publicationPublié - 1984

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