Molecular depth profiling with reactive ions, or why chemistry matters in sputtering

Résultats de recherche

• Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)

  Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager), Tijani Tabarrant (!!Operator), Frederic COME (!!Operator) & Paul-Louis Debarsy (!!Manager)

  Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux

  Equipement/installations: Plateforme technolgique