CUTEST: a Constrained and Unconstrained Testing Environment with safe threads

N. I. M. Gould, Dominique Orban, Ph Toint

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Résumé

We describe the most recent evolution of our constrained and unconstrained
testing environment and its accompanying SIF decoder. Code-named SIFDECODE and CUTEST, these updated versions feature dynamic memory allocation, a modern thread-safe Fortran modular design, a new Matlab interface and a revised installation procedure integrated with GALAHAD.
langue originaleAnglais
Pages (de - à)545-557
Nombre de pages13
journalComputational Optimization and Applications
Volume60
Numéro de publication3
Les DOIs
Etat de la publicationPublié - 2015

Empreinte digitale Examiner les sujets de recherche de « CUTEST: a Constrained and Unconstrained Testing Environment with safe threads ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

  • Sparse Days 2015

    Philippe Toint (Orateur invité)

    29 juin 20152 juil. 2015

    Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à un Colloque, une journée d'étude

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