3rd European Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS Europe 2002

  • Jérémy Brison (Orateur)

Activité: Participation ou organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

A comparative study of cluster and elemental ion yields produced by co-sputtering various surfaces with Cs+ and Xe+ ions, poster. Co-auteur : L. Houssiau.The
Période15 févr. 200217 sept. 2002
Type d'événementUne conférence
LieuMunster, AllemagneAfficher sur la carte