langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 821-826 |
Nombre de pages | 6 |
journal | Applied Surface Science |
Volume | 56-58 |
Etat de la publication | Publié - 1992 |
The formation of the epitaxial CaF2/Si(111) interface investigated by k-resolved inverse photoemission spectroscopy
Saidi Bouzidi, François COLETTI, Jena-Marie DEBEVER, Jean-Louis Longueville, Paul Thiry
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