langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 5366-5371 |
Nombre de pages | 6 |
journal | Applied Optics |
Volume | 29 |
Etat de la publication | Publié - 1990 |
Diode Laser Measurements of Kr-Broadened Linewidths in the ν1 Band of OCS
Ghislain Blanquet, Jacques Walrand, Jean-Pierre Bouanich
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