Feature-based Testing of SPLs: Pairwise and Beyond.

Perrouin, G. (Orateur invité)

Activité: Types de discours ou de présentationDiscours invité

Période20 nov. 2012
!!Titre23rd CREST Open Workshop (Impact Analysis and Testing for Product Lines)
Type d'événementComité scientifique
LieuLondon, Royaume-Uni