19th International Conference on Ion Beam Analysis

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

Communication orale (J. Demarche): "Depth-profiling of implanted 28Si by (alpha,alpha) and (alpha,p) reactions"
Période6 sept. 2009 → 11 sept. 2009
Type d'événementColloque
LieuUniversity of Cambridge, UKAfficher sur la carte