Journee d'Etude sur l'Analyse de surfaces, d'interfaces et de films minces par faisceaux d'ions rapides.

Demortier, G. (Contributor)

Activity: Participating in or organising an event typesParticipation in conference

Description

Communication orale: "Complementarite des techniques RBS, PIXE, PIGE et NRA pour l'analyse tridimensionnelle des materiaux"
Period10 Mar 2003 - 12 Mar 2003
Event typeConference
LocationNouan-le-Fuzelier (France)