On the understanding of ionization and cluster formation processes during ToF-SIMS depth profiling by Co-sputtering cesium and xenon

  • Jérémy Brison

    Student thesis: Doc typesDocteur en Sciences

    la date de réponse26 juin 2007
    langue originaleAnglais
    SuperviseurLaurent Houssiau (Promoteur), Stephane Lucas (Jury), Jean-Jacques Pireaux (Jury), Patrick Bertrand (Jury) & Ewald Niehuis (Jury)

    Contient cette citation

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