On the understanding of ionization and cluster formation processes during ToF-SIMS depth profiling by Co-sputtering cesium and xenon

Thèse de l'étudiant: Doc typesDocteur en Sciences

Résumé

Date de réussite2007
langueAnglais
SuperviseurLaurent Houssiau (Promoteur), Stéphane Lucas (Jury), Jean-Jacques Pireaux (Jury), Patrick Bertrand (Jury) & Ewald Niehuis (Jury)

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On the understanding of ionization and cluster formation processes during ToF-SIMS depth profiling by Co-sputtering cesium and xenon
Brison, J. (Auteur). 2007

Thèse de l'étudiant: Doc typesDocteur en Sciences