On the understanding of ionization and cluster formation processes during ToF-SIMS depth profiling by Co-sputtering cesium and xenon

  • Jérémy Brison

    Thèse de l'étudiant: Doc typesDocteur en Sciences

    Résumé

    la date de réponse2007
    langue originaleAnglais
    SuperviseurLaurent HOUSSIAU (Promoteur), Stephane Lucas (Jury), Jean-Jacques Pireaux (Jury), Patrick Bertrand (Jury) & Ewald Niehuis (Jury)

    Contient cette citation

    On the understanding of ionization and cluster formation processes during ToF-SIMS depth profiling by Co-sputtering cesium and xenon
    Brison, J. (Auteur). 2007

    Thèse de l'étudiant: Doc typesDocteur en Sciences