la date de réponse | 26 juin 2007 |
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langue originale | Anglais |
Superviseur | Laurent Houssiau (Promoteur), Stephane Lucas (Jury), Jean-Jacques Pireaux (Jury), Patrick Bertrand (Jury) & Ewald Niehuis (Jury) |
On the understanding of ionization and cluster formation processes during ToF-SIMS depth profiling by Co-sputtering cesium and xenon
Student thesis: Doc types › Docteur en Sciences