Grâce à une méthode basée sur les tenseurs de Green, nous avons modélisé les phénomènes d'optique de champ proche dans le cadre de
- la microscopie optique de champ proche, dans laquelle une pointe diélectrique, recouverte ou non de métal, interagit avec la surface à analyser;
- l'interférométrie, bien connue en optique géométrique, et démontrant en optique de champ proche des comportements particuliers exploitables également en microscopie.
Ces modélisations ont fait l'objet de comparaisons convaincantes avec les expériences réalisées dans le domaine.
la date de réponse | 1996 |
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langue originale | Anglais |
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Modélisation des phénomènes de champ proche optique en microscopie et en interférométrie
Castiaux, A. (Auteur). 1996
Student thesis: Doc types › Docteur en Sciences