| la date de réponse | sept. 2014 |
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| langue originale | Français |
| L'institution diplômante |
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| Superviseur | Guy Terwagne (Jury) |
Caractérisation de la diffusion de 74Ge+, co-implanté avec un excès de 28Si+ dans une couche de dioxyde de silicium sur un substrat de silicium
Student thesis: Master types › Master en sciences physiques