langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 73-76 |
Nombre de pages | 4 |
journal | Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XII |
Etat de la publication | Publié - 2000 |
XPS study of ion induced oxidation of silicon with and without oxygen flooding
Hilde De Witte, Thierry Conard, Robert Sporken, Rachel Gouttebaron, Raphaël Magnée, Wilfried Vandervorst, Roland Caudano, Renaat Gijbels
Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Revue de documentation