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XPS study of Au/GaN and Pt/GaN contacts
Robert Sporken
, Christophe Silien
, Frédéric Malengreau
, Kornely Grigorov
,
Roland Caudano
, F. J. Sánchez
, E. Calleja
, E. Muñoz
, B. Beaumont
, P. Gibart
Résultats de recherche
:
Contribution à un journal/une revue
›
Article
Aperçu
Empreinte digitale
Empreinte digitale
Examiner les sujets de recherche de « XPS study of Au/GaN and Pt/GaN contacts ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.
Trier par
Pondération
Par ordre alphabétique
Keyphrases
Schottky Barrier Height
100%
Metal Contact
100%
2D Growth
100%
In Situ Study
100%
Au Contacts
100%
No-chemical
100%
Chemical Interaction
100%
Sharp Interface
100%
XPS Depth Profiling
100%
Engineering
Depth Profile
100%
Situ Study
100%
Sputtering Yield
100%
Barrier Height
100%
Metal Contact
100%
Schottky Barrier
100%
Chemistry
Depth Profiling
100%
Atomic Force Microscopy
50%
Noble Metal
50%
Schottky Contact
50%
Ion Beam
50%
Earth and Planetary Sciences
Noble Metal
100%
Ion Beam
100%
INIS
afm
14%