XPS profiling of Biosensors Materials with a Argon Cluster Ions.

Jean-Jacques Pireaux; Pierre Louette; Laurent Houssiau; Nimer Wehbe; P.  Mack; R.G.  White; T.S. Nunney

XPS profiling of Biosensors Materials with a Argon Cluster Ions.

Jean-Jacques Pireaux, Pierre Louette, Laurent Houssiau, Nimer Wehbe, P. Mack, R.G. White, T.S. Nunney

Namur Research Institute for Life Sciences

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langue originale	Anglais
titre	Proceedings of the AVS 59th International Symposium and Exhibition, Tampa , Florida, USA
Etat de la publication	Publié - 2012
Evénement	AVS, 59th International Symposium and Exhibition - Tampa, FL., États-Unis Durée: 28 oct. 2012 → 2 nov. 2012

Une conférence

Une conférence	AVS, 59th International Symposium and Exhibition
Pays/Territoire	États-Unis
La ville	Tampa, FL.
période	28/10/12 → 2/11/12

Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)
Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager), Jorge Humberto Mejia Mendoza (!!Manager) & Paul-Louis Debarsy (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux
Equipement/installations: Plateforme technolgique

Contient cette citation

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year = "2012",

language = "English",

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note = "AVS, 59th International Symposium and Exhibition ; Conference date: 28-10-2012 Through 02-11-2012",

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XPS profiling of Biosensors Materials with a Argon Cluster Ions. / Pireaux, Jean-Jacques ; Louette, Pierre ; Houssiau, Laurent et al.
Proceedings of the AVS 59th International Symposium and Exhibition, Tampa , Florida, USA. 2012.

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TY - CHAP

T1 - XPS profiling of Biosensors Materials with a Argon Cluster Ions.

AU - Pireaux, Jean-Jacques

AU - Louette, Pierre

AU - Houssiau, Laurent

AU - Wehbe, Nimer

AU - Mack, P.

AU - White, R.G.

AU - Nunney, T.S.

PY - 2012

Y1 - 2012

M3 - Chapter (peer-reviewed)

BT - Proceedings of the AVS 59th International Symposium and Exhibition, Tampa , Florida, USA

T2 - AVS, 59th International Symposium and Exhibition

Y2 - 28 October 2012 through 2 November 2012

ER -

XPS profiling of Biosensors Materials with a Argon Cluster Ions.

Une conférence

Équipement

Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)

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