XPS profiling of Biosensors Materials with a Argon Cluster Ions.

Jean-Jacques Pireaux, Pierre Louette, Laurent Houssiau, Nimer Wehbe, P. Mack, R.G. White, T.S. Nunney

Résultats de recherche: Contribution dans un livre/un catalogue/un rapport/dans les actes d'une conférenceChapitre (revu par des pairs)Revue par des pairs

langue originaleAnglais
titreProceedings of the AVS 59th International Symposium and Exhibition, Tampa , Florida, USA
Etat de la publicationPublié - 2012
EvénementAVS, 59th International Symposium and Exhibition - Tampa, FL., États-Unis
Durée: 28 oct. 20122 nov. 2012

Une conférence

Une conférenceAVS, 59th International Symposium and Exhibition
PaysÉtats-Unis
La villeTampa, FL.
période28/10/122/11/12

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