XPS evidence for negative ion formation in SIMS depth profiling of organic material with cesium

Nimer Wehbe, Jean Jacques Pireaux, Laurent Houssiau

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs

    Empreinte digitale

    Examiner les sujets de recherche de « XPS evidence for negative ion formation in SIMS depth profiling of organic material with cesium ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

    Chemistry

    Biochemistry, Genetics and Molecular Biology

    Material Science