XPS depth profiling of derivatized amine and anhydride plasma polymers: Evidence of limitations of the derivatization approach

Anton Manakhov, Miroslav Michlíček, Alexandre Felten, Jean-Jacques Pireaux, David Nečas, Lenka Zajíčková

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article › Revue par des pairs

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- Titre(par ordre décroissant)

Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)
Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager), Tijani Tabarrant (!!Operator), Frederic COME (!!Operator) & Paul-Louis Debarsy (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux
Equipement/installations: Plateforme technolgique