XPS data analysis via wavelets and Fourier transform

Catherine Charles, Gervais Leclerc, Pierre Louette, Jean-Jacques Pireaux, Jean-Paul Rasson

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

langue originaleAnglais
Pages (de - à)71-80
Nombre de pages10
journalSurface and interface analysis
Volume36
étatPublié - 2004

Citer ceci

@article{61e6ece8cc9c4185be711cb31d359005,
title = "XPS data analysis via wavelets and Fourier transform",
author = "Catherine Charles and Gervais Leclerc and Pierre Louette and Jean-Jacques Pireaux and Jean-Paul Rasson",
year = "2004",
language = "English",
volume = "36",
pages = "71--80",
journal = "Surface and interface analysis",
issn = "0142-2421",
publisher = "John Wiley and Sons Ltd",

}

XPS data analysis via wavelets and Fourier transform. / Charles, Catherine; Leclerc, Gervais; Louette, Pierre; Pireaux, Jean-Jacques; Rasson, Jean-Paul.

Dans: Surface and interface analysis, Vol 36, 2004, p. 71-80.

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

TY - JOUR

T1 - XPS data analysis via wavelets and Fourier transform

AU - Charles, Catherine

AU - Leclerc, Gervais

AU - Louette, Pierre

AU - Pireaux, Jean-Jacques

AU - Rasson, Jean-Paul

PY - 2004

Y1 - 2004

M3 - Article

VL - 36

SP - 71

EP - 80

JO - Surface and interface analysis

JF - Surface and interface analysis

SN - 0142-2421

ER -