X-ray photoelectron spectroscopic and theoretical study of the conformational dependence of the valence electronic levels on hexagonal and orthorhombic polyoxymethylenes

Pierre Boulanger, Joseph Riga, Jacques Verbist, Joseph Delhalle

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

langue originaleAnglais
Pages (de - à)172-179
Nombre de pages8
journalMacromolecules
Volume22
Etat de la publicationPublié - 1989

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