Transmission electron microscopy study of erbium silicide formation from Ti/Er stack for Schottky contact applications

J. Ratajczak, A. Laszcz, A. Czerwinski, J. Ka̧tcki, F. Phillipp, P.A. Van Aken, N. Reckinger, E. Dubois

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Résumé d'une communication scientifique › Revue par des pairs

    Empreinte digitale

    Examiner les sujets de recherche de « Transmission electron microscopy study of erbium silicide formation from Ti/Er stack for Schottky contact applications ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

    Material Science