TOF-SIMS Depth profiling of vitamin C layers using Cs+ and Xe+ ion beams

N. Wehbe, L. Houssiau

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1 résultats
- Titre(par ordre décroissant)

Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)
Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager), Tijani Tabarrant (!!Operator), Frederic COME (!!Operator) & Paul-Louis Debarsy (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux
Equipement/installations: Plateforme technolgique