ToF-SIMS Depth Profiling of Organic Delta Layers with Low-Energy Cesium Ions: Depth Resolution Assessment

Résultats de recherche

• Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)

  Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager) & Jorge Humberto Mejia Mendoza (!!Manager)

  Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux

  Equipement/installations: Plateforme technolgique