TEM and Nanotchnology

Gustaav Van Tendeloo, Philippe Geuens, Jean-François Colomer, Oleg Lebedev

    Résultats de recherche: Contribution dans un livre/un catalogue/un rapport/dans les actes d'une conférenceChapitre

    langue originaleAnglais
    titreProceedings of 6th Multinational Congress on Microscopy - European Extension-
    Pages21-26
    Nombre de pages6
    Etat de la publicationPublié - 2003

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