langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 889-895 |
Nombre de pages | 7 |
journal | Surface and interface analysis |
Volume | 25 |
Etat de la publication | Publié - 1997 |
Surface and layer state of thin Au-Al layers after high-energy ion irradiation measured by RBS, scanning ion microprobe and SEM
Andreas Markwitz, Guy Demortier
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