Surface and layer state of thin Au-Al layers after high-energy ion irradiation measured by RBS, scanning ion microprobe and SEM

Andreas Markwitz, Guy Demortier

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

    langue originaleAnglais
    Pages (de - à)889-895
    Nombre de pages7
    journalSurface and interface analysis
    Volume25
    Etat de la publicationPublié - 1997

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