Silicon oxynitride and aluminum films interface : Rutherford backscattering and high resolution electron-energy-loss spectroscopic studies

Deda Diatezua Manpuya, Paul Thiry, Guy Terwagne, Roland Caudano

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    langue originaleAnglais
    Pages (de - à)1054-1059
    Nombre de pages6
    journalSurface Science
    Volume269-270
    Etat de la publicationPublié - 1992

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