langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 1054-1059 |
Nombre de pages | 6 |
journal | Surface Science |
Volume | 269-270 |
Etat de la publication | Publié - 1992 |
Silicon oxynitride and aluminum films interface : Rutherford backscattering and high resolution electron-energy-loss spectroscopic studies
Deda Diatezua Manpuya, Paul Thiry, Guy Terwagne, Roland Caudano
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