RBS and XPS depth-profiling of Ge-nc synthesized from Ge+ implantation in thin SiO2/Si layers.

Julien Demarche, Pierre Louette, D. Barba, Guy G. Ross, Guy Terwagne

    Résultats de recherche: Contribution à un événement scientifique (non publié)PosterRevue par des pairs

    langue originaleAnglais
    Etat de la publicationEn préparation - 2013
    EvénementIBA 2013 - Ion Beam Analysis - Seattle - US - Seattle, États-Unis
    Durée: 23 juil. 201228 juil. 2013

    Une conférence

    Une conférenceIBA 2013 - Ion Beam Analysis - Seattle - US
    PaysÉtats-Unis
    La villeSeattle
    période23/07/1228/07/13

    Contient cette citation