Poly(ether ether ketone) (PEEK) XPS reference core level and energy loss spectra

Pierre Louette, Frédéric Bodino, Jean-Jacques Pireaux

Namur Research Institute for Life Sciences

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revue › Article

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langue originale	Anglais
Pages (de - à)	149-153
Nombre de pages	5
journal	Surface science spectra
Volume	12
Etat de la publication	Publié - 2005

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Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)
Louette, P. (!!Manager), Colaux, J. (!!Manager), Felten, A. (!!Manager), Tabarrant, T. (!!Operator), COME, F. (!!Operator) & Debarsy, P.-L. (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux
Equipement/installations: Plateforme technolgique

Contient cette citation

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publisher = "American institute of physics",

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