Résumé
XPS measurements of poly(diallyl phthalate) (PAA) recorded with a SSX-100 spectrometer in standardized experimental conditions are presented: survey scan, high resolution core level spectra as well as the energy loss regions of the main elements are analyzed.
langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 32-37 |
Nombre de pages | 6 |
journal | Surface science spectra |
Volume | 12 |
Etat de la publication | Non publié - 2005 |
Empreinte digitale
Examiner les sujets de recherche de « Poly(diallyl phthalate) (PDAP) XPS reference core level and energy loss spectra ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.Équipement
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Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)
Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager), Tijani Tabarrant (!!Operator), Frederic COME (!!Operator) & Paul-Louis Debarsy (!!Manager)
Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiauxEquipement/installations: Plateforme technolgique