Metal-assisted SIMS and cluster ion bombardment for ion yield enhancement

A. Heile, D. Lipinsky, N. Wehbe, A. Delcorte, P. Bertrand, A. Felten, L. Houssiau, J.-J. Pireaux, R. De Mondt, L. Van Vaeck, H.F. Arlinghaus

Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticleRevue par des pairs

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Metal-assisted SIMS and cluster ion bombardment for ion yield enhancement ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

composés chimiques

Ingénierie et Science des Matériaux

Physique & Astronomie