Metal-assisted secondary ion mass spectrometry using atomic (Ga+ , In+ ) and fullerene projectiles

A. Delcorte, S. Yunus, N. Wehbe, N. Nieuwjaer, C. Poleunis, A. Felten, L. Houssiau, J.-J. Pireaux, P. Bertrand

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Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Metal-assisted secondary ion mass spectrometry using atomic (Ga+ , In+ ) and fullerene projectiles ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Chemistry