Metal-assisted secondary ion mass spectrometry using atomic (Ga⁺ , In⁺ ) and fullerene projectiles

Résultats de recherche

• Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)

  Louette, P. (!!Manager), Colaux, J. (!!Manager), Felten, A. (!!Manager), Tabarrant, T. (!!Operator), COME, F. (!!Operator) & Debarsy, P.-L. (!!Manager)

  Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux

  Equipement/installations: Plateforme technolgique