Metal-assisted secondary ion mass spectrometry using atomic (Ga⁺ , In⁺ ) and fullerene projectiles

Résultats de recherche

• Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) (2016 - ...)

  Pierre Louette (!!Manager), Julien Colaux (!!Manager), Alexandre Felten (!!Manager), Jorge Humberto Mejia Mendoza (!!Manager) & Paul-Louis Debarsy (!!Manager)

  Plateforme technologique Synthese, irradiation et analyse des materiaux

  Equipement/installations: Plateforme technolgique