Lateral and depth profiling in Al alloy implanted with nitrogen using a 27Al(p,gamma)28Si and 15N(p,alpha-gamma))12C resonant nuclear reactions

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langue originaleAnglais
titreInternational Conference Proceedings "Applications of Nuclear Techniques"
Pages166-173
Nombre de pages8
étatPublié - 1991

Contient cette citation

Lucas, S., Terwagne, G., Bodart, F., & Benmallek, K. (1991). Lateral and depth profiling in Al alloy implanted with nitrogen using a 27Al(p,gamma)28Si and 15N(p,alpha-gamma))12C resonant nuclear reactions. Dans International Conference Proceedings "Applications of Nuclear Techniques" (p. 166-173)