langue originale | Anglais |
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Pages (de - à) | 697-702 |
Nombre de pages | 6 |
journal | Applied Surface Science |
Volume | 56-58 |
Etat de la publication | Publié - 1992 |
Investigation of the AlAs-GaAs interface by High Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy
Jean-Louis Guyaux, Alain Degiovanni, Paul Thiry, Robert Sporken, Roland Caudano
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