Investigation of metal-GaN and metal-Al,GaN contacts by XPS depth profiles and by electrical measurements

Jacques Dumont, Eva Monroy, Elias Munoz, Roland Caudano, Robert Sporken

    Résultats de recherche: Contribution à un journal/une revueArticle

    langue originaleAnglais
    Pages (de - à)558-563
    Nombre de pages6
    journalJournal of Crystal Growth
    Numéro de publication230
    Etat de la publicationPublié - 2001

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