Inverse photoemission spectroscopy of the prototypical Si(111): As 1x1 surface

Saidi Bouzidi, Thierry ANGOT, François COLETTI, Jean-Marie DEBEVER, Jean-Louis Guyaux, Paul Thiry

    Résultats de recherche: Contribution dans un livre/un catalogue/un rapport/dans les actes d'une conférenceChapitre

    langue originaleFrançais
    titreProceedings of the 4th International Conference on the formation of Semiconductor Interfaces (Jülich 1993)
    rédacteurs en chefH Lüth, W Mönch, J Pollmann
    Pages649-652
    Nombre de pages4
    Etat de la publicationPublié - 1994

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