Inverse photoemission spectroscopy of the prototypical Si(111): As 1x1 surface

Saidi Bouzidi, Thierry ANGOT, François COLETTI, Jean-Marie DEBEVER, Jean-Louis Guyaux, Paul Thiry

    Résultats de recherche: Contribution dans un livre/un catalogue/un rapport/dans les actes d'une conférenceChapitre

    langue originaleFrançais
    titreProceedings of the 4th International Conference on the formation of Semiconductor Interfaces (Jülich 1993)
    rédacteurs en chefH Lüth, W Mönch, J Pollmann
    Pages649-652
    Nombre de pages4
    Etat de la publicationPublié - 1994

    Contient cette citation

    Bouzidi, S., ANGOT, T., COLETTI, F., DEBEVER, J-M., Guyaux, J-L., & Thiry, P. (1994). Inverse photoemission spectroscopy of the prototypical Si(111): As 1x1 surface. Dans H. Lüth, W. Mönch, & J. Pollmann (eds.), Proceedings of the 4th International Conference on the formation of Semiconductor Interfaces (Jülich 1993) (p. 649-652)