Hybrid organic/inorganic materials depth profiling by ToF-SIMS using low energy cesium ions

Résultats de recherche

• Depth profiling of hybrid multilayers using ToF-SIMS: from model samples to photonic devices

  Auteur: Noel, C., 8 avr. 2019

  Superviseur: Houssiau, L. (Promoteur), Cecchet, F. (Président), Busby, Y. (Jury), Delcorte, A. (Personne externe) (Jury), Galtayries, A. (Personne externe) (Jury) & Bernard, L. (Personne externe) (Jury)

  Student thesis: Doc types › Docteur en Sciences

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