HRTEM characterization of erbium silicide formed in ultra high vacuum

A. Laszcz, J. Ratajczak, A. Czerwinski, J. Katcki, F. Phillipp, P.A. Van Aken, D.A. Yarekha, Nicolas Reckinger, G. Larrieu, E. Dubois

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langue originaleAnglais
titreMicroscopy conference 2009
Etat de la publicationPublié - 2009

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Laszcz, A., Ratajczak, J., Czerwinski, A., Katcki, J., Phillipp, F., Van Aken, P. A., Yarekha, D. A., Reckinger, N., Larrieu, G., & Dubois, E. (2009). HRTEM characterization of erbium silicide formed in ultra high vacuum. Dans Microscopy conference 2009