High resolution electron energy loss spectroscopy of MBE grown AlxGa1-xAs ternary alloys

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langue originaleAnglais
titreProceedings of the 4th International Conference on the formation of Semiconductor Interfaces (Jülich 1993)
rédacteurs en chefB Lengeler, H Lüth, W Mönch, J Pollmann
Pages649-652
Nombre de pages4
étatPublié - 1994

Contient cette citation

Guyaux, J-L., Thiry, P., Sporken, R., Lambin, P., & Caudano, R. (1994). High resolution electron energy loss spectroscopy of MBE grown AlxGa1-xAs ternary alloys. Dans B. Lengeler, H. Lüth, W. Mönch, & J. Pollmann (eds.), Proceedings of the 4th International Conference on the formation of Semiconductor Interfaces (Jülich 1993) (p. 649-652)