langue originale | Français |
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Pages (de - à) | 238-242 |
Nombre de pages | 5 |
journal | Surface Science |
Volume | 251-252 |
Etat de la publication | Publié - 1991 |
High resolution electron energy loss spectroscopy of GaAs and AlAs grown by molecular beam epitaxy
Alain Degiovanni, Jean-Louis Guyaux, Paul Thiry, Roland Caudano
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